IEEE C 62.37 Errata-2009 半导体闸流管二极管冲击保护设备试验规范;勘误表
作者:标准资料网 时间:2024-05-12 09:57:09 浏览:8885
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【英文标准名称】:TestSpecificationforthyristordiodesurgeprotectivedevices;Errata
【原文标准名称】:半导体闸流管二极管冲击保护设备试验规范;勘误表
【标准号】:IEEEC62.37Errata-2009
【标准状态】:现行
【国别】:美国
【发布日期】:2009-10-23
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国电气电子工程师学会(US-IEEE)
【起草单位】:IEEE
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:定义;电气工程;过电压保护装置;半导体;规范;半导体闸流管;电压保护
【英文主题词】:Definitions;Electricalengineering;Overvoltageprotection;Semiconductors;Specification;Thyristors;Voltageprotection
【摘要】:
【中国标准分类号】:L41
【国际标准分类号】:31_080_10;31_080_20
【页数】:11P;A4
【正文语种】:英语
【原文标准名称】:半导体闸流管二极管冲击保护设备试验规范;勘误表
【标准号】:IEEEC62.37Errata-2009
【标准状态】:现行
【国别】:美国
【发布日期】:2009-10-23
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国电气电子工程师学会(US-IEEE)
【起草单位】:IEEE
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:定义;电气工程;过电压保护装置;半导体;规范;半导体闸流管;电压保护
【英文主题词】:Definitions;Electricalengineering;Overvoltageprotection;Semiconductors;Specification;Thyristors;Voltageprotection
【摘要】:
【中国标准分类号】:L41
【国际标准分类号】:31_080_10;31_080_20
【页数】:11P;A4
【正文语种】:英语
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